统计过程控制(SPC)及反应计划

导读:文件/指引名称文件/指引编号文件/指引版本编写人深圳亚翔塑胶五金厂ATLASPL,受控编号接收部门接收人受控编号接收部门接收人1A总经办/9A行政部A2A营业部1,文件/指引名称文件/指引编号文件/指引版本深圳亚翔塑胶五金厂ATLASPLAST,通过应用控制图方法,对产品制造过程关键工序的主要质量特性/重要特性进行控制,适用于公司生产过程各关键工序主要质量特性/重要特性的控制,中心线规格下限规

统计过程控制(SPC)及反应计划

文件/指引名称 文件/指引编号 文件/指引版本 编写人 深圳亚翔塑胶五金厂 ATLAS PLASTICS&METAL PRODUCT FACTORY SZ 统计过程控制(SPC)及反应计划 TS-QW-EG-04 A 吴永东 部门主管 审批 页 数 生效日期 李承俊 1/8 2006-06-01 管理者代表 确认 金东奎 生效日期 版本 首次发行 修 改 履 历 2006-06-01 亚翔

受控编号 接收部门 接收人 受控编号 接收部门 接收人 1A 总经办 / 9A 行政部 A 2A 营业部 10A 财务部 3A 采购部 11A 信息技术部 / 4A 工程部 5A 成型部 6A 品质部 7A 装配部 8A 仓务部 文件控制印章 如印章之颜色不是红色﹐则是非受控副本﹐ 请参阅受控制副本文件。

文件/指引名称 文件/指引编号 文件/指引版本 深圳亚翔塑胶五金厂 ATLAS PLASTICS&METAL PRODUCT FACTORY SZ 统计过程控制(SPC)及反应计划 TS-QW-EG-04 A 页 数 生效日期 2/8 2006-06-01 1. 目的

通过应用控制图方法,对产品制造过程关键工序的主要质量特性/重要特性进行控制,及时发

现异常因素并加以消除,确保工序处于稳定的受控的状态。 2. 范围

适用于公司生产过程各关键工序主要质量特性/重要特性的控制。 3. 术语及定义 3.1术语

σ

标准偏差 CL

中心线 规格下限 规格上限 过程实绩

LCL UCL SPC CP 3.2定义

计量型数据:可以连续不间断取值的数据。 计数型数据:不可以连续不间断取值的数据。 稳定性:不存在变差的特殊原因处于统计控制的状态。

规格限:本公司或由供应商或客户对相关过程或产品特性所定的控制界限。 变差:过程的单个输出之间不可避免的差别,原因可分成两类:普通和特殊原因。

4.职责 4.1技术部

4.1.1 在制定控制计划中确定关键的工序参数或控制特性;

4.1.2 选取合适的控制图类型(如:?X-R,np图),确定取样数量及测试频率; 4.1.3 计算持续的中心线和控制界限,包括对控制界限进行修订; 4.1.4 检查完成的控制图,分析其趋势/异常情形; 4.1.5 工序能力的研究。 4.2现场检验员和操作人员

4.2.1 按规范选取和检测样本并记录检测结果;

文件控制印章 控制下限 LSL 控制上限 USL 统计过程控制 PP

能力指数 CPk 稳定过程的能力指数

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深圳亚翔塑胶五金厂 ATLAS PLASTICS&METAL PRODUCT FACTORY SZ 统计过程控制(SPC)及反应计划 TS-QW-EG-04 A 页 数 生效日期 3/8 2006-06-01 4.2.2 所测量取得的数据处于稳定状态下计算该管理项目的CPk值,判断其过程能力是否

达到基本要求。

4.2.3 如CPk达到要求将其要求控制界限的控制图交与生产现场进行过程控制;如CPk达不

到要求时,要求调整后再重新抽样作分析用控制图。 4.2.4 知会生产部或开发部失控情况。 4.3品质统计人员

4.3.1 根据开发部给定的上下控制界限的过程用控制图进行打点绘图。

4.3.2 当控制图反映出该管理项目达不到稳定状态时,及时报告生产部应和开发部一起判断

缺陷或采取适当的纠正和预防措施使工序恢复控制,并跟进整改效果。

4.4品质部负责对统计过程控制作业进行指导、检查、跟踪及验证。

5. 工作程序

5.1均值和极差控制图( X- R图 )(附件二) 5.1.1 控制图的准备

5.1.1.1 建立适用于实施的工作环境 5.1.1.2 定义过程 5.1.1.3 确定作图的特性

A.顾客的要求;

B.当前的潜在问题区域; C.特性之间的相互关系; D.定义测量系统; E.使不必要的变差最小化。 5.1.2均值和极差图绘制步骤( X-R图 ) 5.1.2.1 收集数据

A.选择子组大小、频率和数据; B.建立控制图及记录原始数据; C.计算每个子组的均值(X)和极差(R);

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深圳亚翔塑胶五金厂 ATLAS PLASTICS&METAL PRODUCT FACTORY SZ 统计过程控制(SPC)及反应计划 TS-QW-EG-04 A 页 数 生效日期 4/8 2006-06-01 X= X1+X2+…+Xn (X1、X2为子组内每个测量值,n为子组的样本容量,

n 通常取n=5) R= Xmax-Xmin

D.选择控制图的刻度; E.将均值和极差画在控制图上。

5.1.2.2 计算控制界限

- =

A.计算平均极差( R)及过程平均值(X);

R-1+R2+…+Rk RR = k

---= X 2+…+X k 1+XX = K B.计算控制界限;

--UCLR = D4 LCLRRR = D3

=-=-UCL X = X + A2 LCL R - A2 R X = X

n D4 D3 A2 2 3 4 5 6 7 8 9 10 K为子组的数量,R1和X1即为第一个子组

的极差和均值,R2和X2为第二个子组的极差和均值,等等

3.27 2.57 2.28 2.11 2.00 1.92 1.86 1.82 1.78 / / / / / 0.08 0.14 0.18 0.22 1.88 1.02 0.73 0.58 0.48 0.42 0.37 0.34 0.31 式中:D4、D3、A2为常数,它们随样 本容量的不同而不同,详情见下表:

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深圳亚翔塑胶五金厂 ATLAS PLASTICS&METAL PRODUCT FACTORY SZ 统计过程控制(SPC)及反应计划 TS-QW-EG-04 A 页 数 生效日期 5/8 2006-06-01 C.在控制图上作出平均值和极差值控制线。 5.1.2.3 过程控制解释

A.分析极差图上的数据点;

--超出控制界限的点; --连续7点位于平均值的一侧; --连续7点上升或下降; --其它明显的非随机图形。 B.识别并标注特殊原因(极差图); C.重新计算控制界限(极差图); D.分析均值图上的数据点;

--超出控制界限的点 --连续7点位于平均值的一侧 --连续7点上升或下降 --其它明显的非随机图形 E.识别并标注特殊原因(均值图); F.重新计算控制界限(均值图)。 5.1.2.4过程能力解释

A、计算过程的标准偏差;

R σ= d2

式中:R为子组极差的均值(在极差受控时),d2为随样本容量变化的常数。见表:

n 2 1.13 3 1.69 4 2.06 5 2.33 6 2.53 7 2.70 8 2.85 9 2.97 10 3.08

d2 B.计算过程能力;

USL -LSL Cp= (双侧规格下)

6σ USL -X Cp= (只有上限要求时)

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